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2025 年 9 月 30 日，德国国家CIS微系统传感器开发研究院院长Thomas Ortlepp 博士、技术专家 Lorenz Chen 一行访问上海星申仪表有限公司（以下简称 “星申仪表”），围绕3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片技术开展深度合作，此次合作为耐辐照压力传感器芯片技术协同创新注入新动能，为耐辐照压力传感器领域的关键技术突破提供新思路。
上海星申核工业仪表事业部副总经理蒋楠女士指出，在核电厂高辐照环境工况苛刻，对传感器的耐辐照性能、稳定性与精准度要求极高。此次星申研发团队与德国国家CIS微系统传感器研究院的技术交流合作，将充分整合双方在产品应用、技术研发上的优势，加速3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片领域的关键技术突破。
关于德国国家CIS微系统传感器开发研究院院长Thomas Ortlepp 博士，2025年9月25日，在上海跨国采购会展中心，中国（上海）国际传感器技术与应用展览会——“压力传感器创新产业论坛”上，作为演讲嘉宾关于3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片主题演讲。
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